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        利用飛行時間二次離子質譜儀可以做到的多種分析

        發布時間:2023-01-31瀏覽:149次

           飛行時間二次離子質譜儀在表面分析中具有很高的靈敏度。該方法利用一次離子激發樣品表面微量二次離子,并根據二次離子飛向探測器的時間長短來確定離子質量。由于離子在TOF-SIMS中的飛行時間只與質量有關,所以它一次脈沖就可以得到全譜,離子利用率高,可以實現樣品的靜態分析。

         
          二次離子質譜儀的飛行時間只取決于離子的質量。由于它一次脈沖可以得到全譜,離子利用率最高,可以實現樣品幾乎無損的靜態分析。
         
          1、有機質表面表征,能分析元素的面分布,分辨率在5-10nm之間。
         
          2、鑒別金屬,玻璃,陶瓷,薄膜或粉末表面的有機物層或無機層,能夠分析有機物并直接輸出分子式。
         
          3、極小面積分析,最小區域直徑為80納米。
         
          4、深度分辨率良好(0.1-1納米),但是濺射速率非常慢(小于1μm/H)。
         
          5、可以提供樣品的三維圖像信息。
         
          6、同位素豐度分析(英文).
         
          7、采用TOF-SIMS技術對產品表面膜層成分進行定性分析,采用TOF-SIMS技術對膜層成分進行定性分析。
         
          8、當膜層和基材的截面出現了分層現象,但沒有發現明顯的雜質痕跡時,可以使用TOF-SIMS進行表面微量物質成分分析,以確定是否存在外來污染,檢出限為ppm。

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